Detectors and Imaging Devices

课程简介

介绍：辐射度学，黑体辐射定律，点源与扩展源，热辐射，辐射能量传递，辐射噪声。 光学探测器：探测机制（光电检测原理，本征光伏效应，光电导检测，光电二极管的工作特性与特性）；噪声简介；探测器要求，响应度与量子效率，频率响应，性能指标，探测器性能测量；光电倍增管，多通道与平板，电荷存储与电荷转移概念，输出读出技术，电荷耦合器件阵列测试，时间延迟积分。 成像系统：光学成像材料，胶片与数字摄影，成像系统中傅里叶变换的时间与频率分析，采样，滤波与数字化。 热成像：红外辐射的性质，红外探测器，热探测器。

学习目标

本课程从工程师的角度介绍光学探测器和成像系统，发展对光在探测器和成像系统中的工程应用及其用途的全面理解，并回顾成像仪器和技术及其在光电技术中的作用。

先修要求

先修课程：AP20006 排除课程：AP40014

教学模式

课堂教学、实验室实验和演示。教学环节侧重于与学习成果（a-e）相关的基本概念和原理。实验室环节增强使用光检测和成像系统设备的能力（成果f）。学生就探测器和成像设备的应用和设计进行演示（成果f）