Imaging: Detector, Display and Processing

课程简介

介绍：辐射度学，黑体辐射定律。 光学探测器：探测机制（热探测器和光子探测器的工作原理，光电导体，光电二极管、光放大管、微通道板的工作原理和特性）；光探测器的噪声和性能指标简介； 成像系统：电荷耦合器件（CCD），热成像设备，胶片和数字摄影，傅里叶变换在时间与频率分析中的应用，成像系统中的采样、滤波和数字化，图像预处理；图像增强、复原和重建；图像分割；图像理解；自动检测和医学影像应用。 显示技术基础：人眼视觉和感知；光度学和色度学；显示用发光和磷光体；显示技术规格和测量。 薄膜晶体管（TFT）显示技术：器件结构和性能；非晶态和多晶硅TFT。 液晶显示（LCD）：液晶相，LCD结构；驱动电路；寻址方法；AMLCD的制造。 发光二极管（LED）和有机发光二极管（OLED）显示技术：用于显示的LED；有机材料；器件结构和性能；OLED显示。 其他类型的显示技术：等离子体显示板（PDP）；场发射显示器（FED）；微型显示器；电子纸显示器和其他类型。 图像表示和模型：连续图像函数；图像数字化；数字图像属性；图像噪声；图像分析的数据结构。

学习目标

本课程旨在提供光探测器、基于半导体器件的成像系统、显示设备原理及成像处理的基本理解，并展示各种类型光探测器、显示技术和成像分析的应用。

先修要求

互斥科目：AP30003、AP40002

教学模式

教学方法包括课堂讲授和实验室实验。教学环节将重点讲解探测器和成像设备的基本概念和原理，各种显示技术和成像处理的基础知识，这些都与学习成果相关。实验室环节将增强学生使用各种设备进行光检测和显示的能力。