Advanced Electron Microscopy: Theory and Practice

课程简介

电子光学：菲涅尔衍射；夫琅禾费衍射；傅里叶变换；相位对比；分辨率；像差；运动衍射；动力学衍射；晶体中的电子波 扫描电子显微镜（SEM）：次级电子；对比度；分辨率；背散射电子；EBSD；LEEM 透射电子显微镜（TEM）：TEM组成；衍射；成像；光谱学 透射电子显微镜和案例研究技术：高分辨透射电子显微镜（HRTEM）；选区电子衍射（SAED）；环形暗场电子衍射（CBED）；衍射对比；扫描透射电子显微镜（STEM）；洛伦兹显微镜；全息照相；能谱仪（EDS）；电子能量损失光谱仪（EELS）；原位透射电子显微镜（in situ TEMs）

学习目标

本课程旨在介绍电子显微镜的概念，并培养学生使用电子显微镜进行材料表征的能力。

先修要求

无

教学模式

授课：将在讲座中系统地介绍所有实验背后的理论和知识。与讲座内容相关的课堂作业将用于增强学生的学习。 实验课：实验对于学生将概念与实际应用联系起来至关重要，他们将获得动手操作经验，正确使用设备，并培养分析实验结果的能力。